RINFI home
→
Trabajo Final de Graduación
→
Ingeniería Electrónica
→
Listar Ingeniería Electrónica por tema

ListarIngeniería Electrónica por tema "Tasa de error binaria (BER)"

Mostrando ítems 1-1 de 1

Título: Banco de pruebas para sistemas de decodificación implementado en SoC Autor: Delaude, Luciano Fecha: 2022-10-10

Mostrando ítems 1-1 de 1

Buscar en RINFI

Búsqueda avanzada

Listar

Todo RINFI
Esta colección

Mi cuenta